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宁永波

作品数：25 被引量：1H指数：1
供职机构：江南计算技术研究所更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 22篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 13篇自动化与计算...

主题

  • 15篇芯片
  • 8篇芯片验证
  • 7篇处理器
  • 5篇存储器
  • 4篇计算机
  • 4篇参考模型
  • 3篇体系结构
  • 3篇寄存器
  • 3篇计算机体系
  • 3篇计算机体系结...
  • 2篇带宽
  • 2篇代码
  • 2篇代码覆盖
  • 2篇代码覆盖率
  • 2篇动态监测
  • 2篇断言
  • 2篇对焦
  • 2篇对焦点
  • 2篇形式化
  • 2篇形式化验证

机构

  • 25篇江南计算技术...

作者

  • 25篇宁永波
  • 18篇朱巍
  • 16篇谢军
  • 16篇李峰
  • 4篇李宏亮
  • 4篇高剑刚
  • 3篇吕晖
  • 3篇李强
  • 3篇刘骁
  • 3篇石嵩
  • 2篇许晓红
  • 2篇陈芳园
  • 1篇张琦滨
  • 1篇李谦
  • 1篇丁亚军
  • 1篇吴智
  • 1篇毕小建
  • 1篇刘亮
  • 1篇张亮
  • 1篇郑方

传媒

  • 1篇计算机科学
  • 1篇电脑知识与技...
  • 1篇第二十一届计...

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 5篇2022
  • 5篇2021
  • 8篇2020
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2012
  • 1篇2011
共 25 条 记 录，以下是 1-10
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一种实现归约算法的方法及装置
本发明公开了一种实现归约算法的方法及装置，涉及人工智能技术领域，包括：获取从接口发来的访存请求时，判断该访存请求是否是规约读请求；如果是规约读请求，则将一个访存请求按地址拆为多个请求，并悬挂至悬挂缓冲：当收到带规约标志的...
吴智宁永波赵冠一陈芳园谭弘兵
一种处理器硅前验证用的RTL与参考模型实时比较方法
一种处理器硅前验证用的RTL与参考模型实时比较方法，属于中央处理器芯片硅前功能正确性验证技术领域。方法包括步骤S01，当监测到RTL的通用寄存器回写信号时，将RTL回写的值记录于Testbench中的RTL缓冲内；步骤S...
高剑刚朱巍宁永波李峰菅陆田谢军吴珊刘佳季
浮点验证数据空间压缩方法
本发明涉及计算机设计验证技术领域，具体涉及浮点验证数据空间压缩方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：浮点验证数据空间压缩方法，对以下三个内容进行数据空间的压缩：内容一：根据浮点数据格式进行压缩；内容二：根据舍入功能点特...
丁亚军吴珊菅陆田刘佳季朱巍宁永波李峰谢军
文献传递
一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置
本发明公开了一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置，该方法包括识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组；在各控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各运算核心中装载相同的运算核心测试向量；获取待测异构众核处...
菅陆田李峰曹伟朱巍宁永波
一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置
本发明公开了一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置，该方法包括通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点；接收第一操作指令，基于所述第一操作指令编写待测点对应的断言，断言用以表征待测点所表示的...
宁永波朱巍赵晓东谢军马亚楠
文献传递
一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置
本发明公开了一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置，该方法包括识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组；在各控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各运算核心中装载相同的运算核心测试向量；获取待测异构众核处...
菅陆田李峰曹伟朱巍宁永波
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一种访存系统
一种访存系统，计算机体系结构与处理器微结构设计技术领域。系统包括存储控制器和存储器；存储器为由两组存储颗粒构成的128位存储器，每组存储颗粒为64位；存储控制器包括用户接口、第一控制通路CCH0、第二控制通路CCH1、第...
高剑刚石嵩吕晖宁永波严忻恺吴铁彬刘骁
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一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置
本发明公开了一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置，该方法包括通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点；接收第一操作指令，基于所述第一操作指令编写待测点对应的断言，断言用以表征待测点所表示的...
宁永波朱巍赵晓东谢军马亚楠
一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法
本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法，包含如下步骤：环境构成要素排序步骤：将的环境构成要素分析，根据所述...
朱巍李宏亮谢军宁永波刘佳季李峰菅陆田吴珊
一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法
本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，S01、验证环境搭建步骤、S02、激励规则制定步骤...
谢军刘佳季李峰朱巍宁永波菅陆田吴珊
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