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冼亮

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：机械工程金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程

主题

  • 2篇探测器
  • 2篇显微镜
  • 2篇光探测
  • 2篇光探测器
  • 1篇图象
  • 1篇图象监视器
  • 1篇摩擦学
  • 1篇介质
  • 1篇介质薄膜
  • 1篇介质膜
  • 1篇监测器
  • 1篇监视器
  • 1篇反射棱镜
  • 1篇超薄
  • 1篇超精

机构

  • 3篇清华大学

作者

  • 3篇冼亮
  • 1篇郭炎
  • 1篇陈大融

年份

  • 2篇1993
  • 1篇1989
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
超薄透明介质膜厚度测量方法
本发明涉及一种超薄透明介质膜厚度测量方法，属长度计量技术领域。本测量方法采用的光路由光源、反射棱镜、显微镜和光探测器组成，反射棱镜置于被测透明介质薄膜上。光源发出的入射光进入反射镜和透明介质膜后，返回反射棱镜，经反射棱镜...
冼亮
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真实粗糙表面弹性接触的研究
冼亮
关键词：摩擦学
超精表面形貌测量仪
本实用新型涉及一种新型的超精表面形貌测量仪，属长度计量技术领域。本测量仪由工作台、光源、反光棱镜、测量棱镜、显微镜、光探测器、计算机和图象监测器组成。被测样品置于工作台上，并与测量棱镜的底面相接触。光源发出的入射光通过反...
冼亮郭炎陈大融
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