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李为龙

作品数:5 被引量:1H指数:1
供职机构:中兴通讯股份有限公司更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇专利
  • 2篇期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 3篇读写
  • 3篇示波器
  • 2篇动态随机存储...
  • 2篇随机存储器
  • 2篇同步动态随机...
  • 2篇倍速
  • 2篇DDR3
  • 2篇参考电压
  • 2篇测试点
  • 2篇存储器
  • 1篇电路
  • 1篇电路调试
  • 1篇电子产品
  • 1篇信号
  • 1篇信号完整性
  • 1篇眼图
  • 1篇硬件
  • 1篇硬件设计
  • 1篇示波器探头
  • 1篇双端

机构

  • 5篇中兴通讯股份...

作者

  • 5篇李为龙
  • 2篇陈之光

传媒

  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇中国集成电路

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2019
  • 2篇2017
  • 1篇2014
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
测试纹波的示波器探头、方法、装置及系统
本发明提供了一种测试纹波的示波器探头、方法、装置及系统;其中,该示波器探头包括:与示波器连接的第一连接器,信号探头和接地探头,信号探头通过电缆与第一连接器连接,接地探头包括套筒、双端弹簧和接地针尖;其中,接地探头与信号探...
李为龙孙凤艳
文献传递
一种新颖的DDR3读写分离与眼图测试方法被引量:1
2014年
DDR3器件广泛应用于各种设备的单板,而在实际调试与测试中,DDR3的读写时序测试是非常复杂的也是最为耗时的。本文比较各种读写分离方法优劣点及使用场合,通过分析DDR3读写时序的特点,利用ODT及读写前导码的时序关系,使用力科示波器特有的级联Cascaded触发功能,提出一种较为新颖的DDR3的读写分离的眼图测试方法。
李为龙胡为东
关键词:DDR3读写ODT前导码眼图
一种实现时序测试的方法及装置
本发明公开了一种实现时序测试的方法及装置,包括:向上偏拉输出至时序测试的双倍速率同步动态随机存储器(DDR)的标准参考电压,直至DDR异常时,将当前电压值作为最大参考电压值;向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准参考电压,...
李为龙陈之光
文献传递
利用VREF Margin方法分析与解决DDR3参数最优化问题
2019年
DDR因其高速率、大容量的特点,广泛应用于各种电子产品中。在DDR硬件设计过程中,由于信号速率高、引脚多、测试点隐蔽给电路调试测试带来很大困难。如何准确地测试信号完整性和时序,如何快速高效地确定最佳的时序参数,是硬件设计测试工程师们要面对的一个重要难题。本文通过一个典型案例的测试与分析,引入一种通过调整DDR参考电压的方法来间接调试DDR时序,从而得到时序最佳的一组DDR参数。
李为龙
关键词:DDR3硬件设计电路调试信号完整性电子产品
一种实现时序测试的方法及装置
本发明公开了一种实现时序测试的方法及装置,包括:向上偏拉输出至时序测试的时序测试的双倍速率同步动态随机存储器(DDR)的标准参考电压,直至DDR异常时,将当前电压值作为最大参考电压值;向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准...
李为龙陈之光
文献传递
共1页<1>
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