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阮霞

作品数:1 被引量:21H指数:1
供职机构:哈尔滨工程大学材料科学与化学工程学院更多>>
相关领域:一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇数对
  • 1篇显微硬度
  • 1篇溅射
  • 1篇工艺参
  • 1篇TIN薄膜
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 1篇哈尔滨工程大...

作者

  • 1篇阮霞
  • 1篇徐哲

传媒

  • 1篇应用科技

年份

  • 1篇2007
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
磁控溅射TiN薄膜工艺参数对显微硬度的影响被引量:21
2007年
测试了各种工艺参数下磁控溅射制备TiN薄膜的显微硬度,并研究了TiN薄膜硬度随偏压、N2流量及溅射功率的变化.实验结果表明:N2流量对薄膜性能和结构影响较大,随着N2流量的增加,氮化钛薄膜的硬度先急剧上升,到15 mL/s时达到最大值,然后氮化钛薄膜硬度平缓下降,在无偏压的情况下,氮化钛薄膜的硬度很低,加偏压后,由于离子轰击作用,薄膜硬度增加,但过高的负偏压反而会降低氮化钛薄膜硬度.
徐哲席慧智阮霞
关键词:TIN薄膜磁控溅射显微硬度
共1页<1>
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