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- 本发明属于光学领域,本发明公开了一种F‑P标准具平行度检测校准方法,具体是采用带有子孔径的掩膜对法珀标准具的通光孔径进行分割,通过光谱仪同时获取法珀标准具不同区域的光谱曲线,通过比对标准具局部区域光谱曲线的相对偏移,精确...
- 马琳金振宇朱瑾常亮
- 基于F-P标准具的可调谐激光器跳模与波动检测方法
- 本发明公开基于F‑P标准具的可调谐激光器跳模与波动检测方法,主要涉及光纤光栅传感技术领域,用于跳模与波动检测与修复。首先基于F‑P标准具搭建光纤光栅解调系统,根据系统解调精度,确定单个F‑P标准具的自由光谱范围FSR和精...
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- 塞曼效应实验中固体F-P标准具的应用与教学
- 2024年
- 塞曼效应实验是高校近代物理实验课程中的重要内容,学校大多采用空气隙法布里-珀罗(F-P)标准具作为分光元件,本文介绍了固体F-P标准具在塞曼效应实验中的教学与应用、干涉分光的基本原理与特征以及干涉图样的分布规律.结合相关现象与分析,给出了塞曼效应实验的光路调节、谱线观测等过程.该实验教学过程可以加深学生对F-P标准具原理的理解.
- 何琛娟廖红波王海波弓文平熊俊
- 关键词:塞曼效应教学设计
- 一种基于菲涅尔菱形棱镜的F-P标准具及设计方法
- 本发明提供了一种基于菲涅尔菱形棱镜的F‑P标准具及设计方法,具体涉及测试技术领域。本发明利用菲涅尔菱形棱镜的端面所围成的F‑P腔作为F‑P标准具进行波长锁定,配套提供了F‑P标准具的设计方法,通过获取菲涅尔菱形棱镜中P光...
- 张志伟朱兴邦 柴继旺李国超
- 一种基于F-P标准具的扫频干涉测距非线性校正方法
- 本发明公开了一种基于F‑P标准具的扫频干涉测距非线性校正方法,扫频光源产生的激光经80:20分束器分配到测量干涉仪和F‑P标准具,测量干涉仪部分采用90:10分束器将光分配到测量光路和参考光路;F‑P标准具用于产生等频率...
- 于连栋杜艳明陆洋贾华坤高荣科陈孝喆金浩王飞飞
- 基于双F-P标准具的宽调谐窄线宽Tm:YAP脉冲激光器
- 2024年
- 设计了一种宽调谐、窄线宽、高重频的Tm:YAP脉冲激光器。采用三个切轴方向的Tm:YAP晶体作为增益介质,通过0.5 mmYAG材质F-P标准具和0.025 mm熔石英材质F-P标准具,激光器分别实现了49 nm、44 nm、51 nm波长连续调谐,具体分别为1 951~2 000 nm、1 932~1 976 nm、1 943~1 994 nm。同时测得激光线宽均在0.4 nm左右。声光调Q 10 kHz脉冲重复频率下,分别实现了最大平均功率5.08 W、6.29 W、4.83 W的脉冲激光输出。对比发现,b轴Tm:YAP激光器的平均功率最大,测得最大平均功率下的脉宽为65.7 ns,光束质量因子M2在x方向上为1.84,y方向上为1.93。结果表明b轴Tm:YAP晶体具有宽调谐、窄线宽、高功率、大能量激光的潜力。
- 方燕刘明明李若冰刘景良陈薪羽
- 关键词:可调谐激光器窄线宽激光器
- 基于F-P标准具的可调谐激光器跳模与波动检测方法
- 本发明公开基于F‑P标准具的可调谐激光器跳模与波动检测方法,主要涉及光纤光栅传感技术领域,用于跳模与波动检测与修复。首先基于F‑P标准具搭建光纤光栅解调系统,根据系统解调精度,确定单个F‑P标准具的自由光谱范围FSR和精...
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- 基于F-P标准具非线性波长校准的FBG传感系统解调方法
- 2023年
- 针对光纤布拉格光栅(fiber Bragg grating,FBG)解调系统在变温环境下由于波长漂移引起的解调精度不足问题,提出了一种基于法布里-珀罗(Fabry-Perot,F-P)标准具非线性波长漂移校准的FBG传感系统解调方法。研究建立了引入F-P标准具的FBG解调系统,设计了基于F-P标准具非线性误差补偿的波长校准流程,搭建了FBG解调系统在航空航天实际应用环境中的模拟实验系统,并在恒温及变温环境下进行了实验测试。实验结果表明,本文所提出方法在恒温及变温环境下的传感系统解调稳定性在±0.6 pm及±1.1 pm以内,且在变温环境下传感系统解调的波长漂移量从20.3 pm减小到0.7 pm。验证了解调方法的精度和稳定性,为航空航天等领域的结构健康监测提供了参考。
- 陆行知董明利张旭张旭
- 关键词:F-P标准具波长校准
- 具有F-P标准具照明系统的白光干涉仪测量量块的测量不确定度分析
- 2023年
- 文献[1]F-P标准具用于量块量值的传递与溯源一文(中国测试技术2012年增刊第2期54-58页)介绍具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的光学原理及其结构,以及检定F-P标准具的等倾干涉的原理。而进一步对具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的测量不确定度的分析,则由本文完成。该文首先对F-P标准具的检定及其测量不确定度就行了分析。量块尺寸在白光干涉仪上与标准具作比较测量。为减少标准具的数量,量块尺寸可以与两块或三块标准具组成的尺寸进行比较,也可以是由一块尺寸较小的标准具经过光学倍增法实现与被检量块尺寸相同进行比较。例如80mm的量块用40mm的标准具进行比较,这时在量块上的光路在标准具中多一次反射达到;90mm量块则用30mm标准具进行比较。他们也可以由两块标准具组成的尺寸进行比较。分析时以倍增法测量误差最大,以其进行计算。充分证明具有F-P标准具的白光干涉仪完全满足检定1等量块的要求。通过文献[1]及本文的介绍,映证该技术可以实现普及1等量块的检定及量块的自动化检定,特别适用于量块生产厂00级、K级、0级量块的自动化检定。
- 张成悌薛靓付天坤徐德宇刘静冉莉萍王冠熹龚柯安李华张宝武
- 关键词:F-P标准具白光干涉仪
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