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量测方法
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科技报告
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产品样本
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排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
相关度排序
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
自动聚焦
方法
、
量
测
方法
及
量
测
模块
本发明提供一种自动聚焦
方法
、
量
测
方法
及
量
测
模块,自动聚焦
方法
包括:获取标定晶圆表面的任一点在m个工作区域下的高度值,并计算得到不同工作区域中任两个工作区域之间相对于标定晶圆表面的高度差值;m为大于等于2的整数;通过自动聚...
邱青菊
全鹏飞
庄源
量
测
方法
及相关联的
量
测
设备
公开了一种用于确定与衬底上的至少一个目标相关的感兴趣参数的
方法
。该
方法
包括:获得包括至少一个不对称性信号的
量
测
数据,该至少一个不对称性信号包括来自目标的
测
量
参数的差或不平衡;获得已被训练或配置为使所述至少一个不对称性信号...
S·纳吉布扎德
N·加瓦赫里
一种硅片
量
测
方法
、系统及电子设备
本申请公开了一种硅片
量
测
方法
、系统及电子设备,在对待
量
测
硅片进行
量
测
时,可调取目标
量
测
列表中的信息,以便按照目标
量
测
列表中的信息对目标
量
测
列表中包括的属于同一类型的至少一个
量
测
目标进行
量
测
,通过在
量
测
列表中设置同一类型的...
冯昆仑
半导体
量
测
方法
和
量
测
主站点
本申请涉及一种半导体
量
测
方法
和
量
测
主站点,包括:提供一批待
测
样品,采用一
量
测
主站点对待
测
样品进行良率监控;在所述
量
测
主站点的站点过货开关开启时,采用
量
测
主站点中的第一切入站点对所述待
测
样品进行处理,生成所述待
测
样品的第一...
宫珊珊
许元和
蔡俊郎
一种半导体
量
测
结构及半导体研磨
量
的
量
测
方法
本申请涉及半导体技术领域,公开一种半导体
量
测
结构及半导体研磨
量
的
量
测
方法
。半导体
量
测
结构设置在晶圆上,半导体
量
测
结构至少包括沟槽区域及研磨区域;其中,研磨区域的顶表面高于沟槽区域的顶表面,且研磨区域的侧壁与沟槽区域的顶表...
任冠青
袁东林
李南军
王林霞
张超
刘宏喜
王戈飞
量
测
方法
和相关联的
量
测
装置
公开了一种确定与形成在衬底上的至少一个对应的层中的结构相关的至少一个所关注的参数的
方法
,所述
方法
包括:获得与所述结构的
测
量
结果相关的所
测
量
的
量
测
数据;获得模型,所述模型依据多个模型参数描述所述结构,所述模型参数包括估计值...
奥玛尔·埃尔高哈利
P·P·赫芬斯坦
L·F·范赖斯韦克
N·基鹏
H·L·琼奎尔
A·因弗尼齐
H·A·J·克瑞姆
量
测
方法
和相关联的
量
测
装置
公开了一种
量
测
方法
。所述
方法
包括:使用欠填充的照射来辐照衬底上的包括一个或更多个子目标的目标,使得照射束轮廓对所述一个或更多个子目标中的每个子目标进行欠填充;捕获由对所述目标进行的所述辐照产生的散射辐射;在检
测
图像平面处...
O·V·兹维尔
E·J·科普
取样
量
测
方法
及设备
本申请提供一种取样
量
测
方法
及设备。该
方法
包括:根据生产单元对应制程的取样比例,周期性地对生产单元的在制品进行取样
量
测
,其中,每个生产单元用于完成至少一个制程;根据生产单元对应制程的在制品的
量
测
结果,确定生产单元对应制程的...
朱贺
自动基板切片制作
方法
、
量
测
方法
、制作系统及
量
测
系统
本发明提供一种自动基板切片制作
方法
、
量
测
方法
、制作系统及
量
测
系统,自动基板切片制作
方法
包括:定位一基板上的一目标区域,并分离基板上的目标区域以获得一个或多个裁切样本;经由一拾取装置拾取裁切样本,并移动裁切样本至一载板上的...
邹嘉骏
王人杰
林伯聪
赖明正
CDSEM快速
量
测
方法
、装置、介质、程序产品及终端
本申请提供CDSEM快速
量
测
方法
、装置、介质、程序产品及终端,通过引入
量
测
位置补偿和预设自动对焦电压值的技术手段,实现了CDSEM
量
测
过程的优化。具体步骤包括:获取多个待
量
测
点的坐标,基于这些坐标生成
量
测
顺序,并进行多次...
刘畅
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邱业建
作品数:19
被引量:48
H指数:3
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李志清
作品数:217
被引量:713
H指数:18
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贾东梨
作品数:59
被引量:474
H指数:9
供职机构:国家电网公司中国电力科学研究院
研究主题:配电网 智能配电网 分布式电源 有源 配电网重构
赵超
作品数:568
被引量:38
H指数:4
供职机构:清华大学
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雷明锋
作品数:452
被引量:1,625
H指数:20
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