搜索到12478篇“ 芯片测试“的相关文章
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芯片测试舱
本发明提供一种芯片测试舱，其包括：舱体、测试台、支撑架和测试头；所述测试台、所述支撑架和所述测试头均位于所述舱体内，所述支撑架与所述测试头可拆卸固定连接；所述支撑架上设置有至少两个安装工位，每一个安装工位均用于装载一个测...
程鹏杨晓君孙浩天杨帆夏伟
无线芯片测试系统
本实用新型适用芯片测试技术领域，提供了一种无线芯片测试系统，包括被测无线芯片、通过通信总线和射频传输结构与被测无线芯片连接的测试装置，该测试装置包括Golden芯片，射频传输结构连接于被测无线芯片的第一天线和Golden...
李成张亚运段攀攀
一种芯片测试装置
本发明提供一种芯片测试装置，用于对待测试芯片进行电气性能测试，包括：测试印制电路板，包括相对设置的正面和背面，所述正面固定有芯片测试插座，所述芯片测试插座用于插设所述待测试芯片；支撑结构，所述支撑结构固定并连接在所述测试...
张寅凌俭波叶建明季海英祁红飞吴勇佳
芯片测试载座
本发明揭示了芯片测试载座，包括测试载座主体，测试载座主体上设有用于承载芯片的芯片载槽，芯片载槽的底壁上设有用于与芯片相导通配合的导通部，芯片载槽的底壁上设有至少一个负压吸附通道，负压吸附通道连接有气源。本发明通过在芯片载...
吴晨吴民振
一种芯片测试底座
一种芯片测试底座，包括底座主底板、转动轴套、压紧件、芯片定位框。其中，转动轴套有两段，同轴固定在该底座主底板上表面的一端。压紧件开口端的两个端头折弯成转轴并安装在所述转动轴套内，通过二者间的配合使压紧件实现180°旋转。...
李悦汤丹妮王钧董浩彭娟
一种芯片测试系统
本发明公开了一种芯片测试系统，属于芯片技术领域，包括芯片主体，芯片主体包括芯片封装体、针脚导线体和芯片核心体，芯片核心体包括芯片模块，芯片模块底部均匀设置有针脚触柱，针脚导线体包括内导体和外缓冲体，芯片封装体包括封装基座...
李世伟吴志伟张昕
一种芯片测试设备
本申请公开了一种芯片测试设备，该芯片检测设备通过将芯片存储机构的待测试芯片放置于承载座上暂存，以使第一位置的承载座接收待测试芯片，并在检测座空闲时通过第一转移机构将第二位置的承载座的待测试芯片转移至检测座上以对待测试芯片...
王树锋梁晖陈小兵
LPDDR芯片测试装置
本发明公开一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口...
孙成思孙日欣刘冲
芯片测试方法及电路
本发明提供一种芯片测试方法及电路，其中的芯片测试方法包括：获取待检测芯片的眼图，并基于所述眼图获取基准测试点以及位于所述基准测试点周围的至少一个边缘测试点；基于测试数据信号对所述基准测试点和所述边缘测试点进行检测，并分别...
赖俊生
一种射频芯片测试设备
本发明公开了一种射频芯片测试设备，包括限位装置，所述限位装置用于对待测试芯片进行限位；高度位置检测装置，所述高度位置检测装置用于检测待测试芯片的高度误差值；水平位置检测装置，所述水平位置检测装置用于检测待测试芯片的水平位...
窦国珍罗伟
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芦俊
作品数：57被引量：25H指数：3
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研究主题：测试向量 自适应路由 扫描链 路由方法 无死锁
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研究主题：芯片测试 芯片 测试装置 测试信号 板卡
恩云飞
作品数：415被引量：379H指数：9
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：可靠性 集成电路 单粒子效应 木马 电迁移