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相移掩模
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产品样本
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排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
相关度排序
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
衰减
相移
掩模
版及其制程方法
本申请提供一种衰减
相移
掩模
版及其制程方法,涉及半导体制程技术领域。本申请通过提供包括相对设置的第一表面及第二表面的透明基板,接着在透明基板的第一表面上形成遮光膜层,并遮光膜层上蚀刻出用于表示目标
掩模
图案的图案沟槽,得到待...
陈庆煌
柯思羽
刘志成
王见明
用于极紫外光刻的
相移
掩模
用于极紫外光刻工艺的
相移
掩模
包括衬底、位于所述衬底上的反射层、位于所述反射层上的覆盖层和位于所述覆盖层上的
相移
图案。每个所述
相移
图案可以包括位于所述覆盖层上的下吸收图案和位于所述下吸收图案上的上吸收图案。所述上吸收图案的...
金成洙
金东完
徐焕锡
掩模
坯料及其制造方法、
相移
掩模
及其制造方法
本发明提供了一种
掩模
坯料及其制造方法、
相移
掩模
及其制造方法;该
掩模
坯料包括依次层叠设置的透光性基板、刻蚀截止膜、
相移
膜、遮光膜和硬掩膜,其中,刻蚀截止膜的材料包括金属元素和非金属元素,金属元素选自Cr、Ta、Hf、Zr、...
余晴
刘树围
潘刘洋
马浩
相移
掩模
的制作方法
本申请公开了一种
相移
掩模
的制作方法,涉及半导体制造领域。该
相移
掩模
的制作方法包括提供
掩模
基板;根据第一层图形设计数据,对
掩模
基板进行第一次图形化处理;在
掩模
基板表面涂布光刻胶;根据第二层图形设计数据,对光刻胶进行曝光和显...
居碧玉
栾会倩
张丽娜
王影
王奇
一种
相移
掩模
的制作方法
本发明涉及一种
相移
掩模
的制作方法,其将光罩图形分解为高精度的芯片设计图形和次级精度的辅助图形,高精度的芯片设计图形在一次描画的时候采用高精度的光刻机进行描画,次精度的辅助图形在二次描画的采用低精度的光刻机同时进行描画,可...
李大海
卢青
黄宇光
黄志贤
相移
掩模
的相位信息获取方法
本发明提供一种
相移
掩模
的相位信息获取方法,所述方法包括如下步骤:在
相移
掩膜的透射率为第一透射率的状态下,获取以使通过
相移
掩膜的光的强度达到最大值的方式移动焦点的第一焦点变化量,其中根据
相移
掩膜的第一相位获取第一焦点变化量...
张在爀
具周会
金泰俊
崔男一
相移
掩模
以及
相移
掩模
的制造方法
提供雾度缺陷少、即能够充分地抑制雾度的产生的
相移
掩模
以及该
相移
掩模
的制造方法。本实施方式涉及的
相移
掩模
(100)是适用于波长为200nm以下的曝光光、具备电路图案的
相移
掩模
,具备:基板(11)、在基板(11)上形成且具备...
米丸直人
黑木恭子
小岛洋介
相移
掩模
板遮光带的检测方法
本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种
相移
掩模
板遮光带的检测方法。该方法包括:对所述待测
相移
掩模
板进行第一次曝光操作形成第一曝光区;所述检测透光部中的检测结构经过所述第一次曝光操作形成B初始检测图形;对所述待...
董俊
金佩
张其学
王雷
宋振伟
张守龙
相移
掩模
以及
相移
掩模
的制造方法
提供雾度缺陷少、即能够充分地抑制雾度的产生的
相移
掩模
以及该
相移
掩模
的制造方法。本实施方式涉及的
相移
掩模
(100)具备:基板(11)、在基板(11)上形成且具备电路图案的
相移
膜(12)、以及在
相移
膜(12)的上面(12t)...
黑木恭子
松井一晃
小岛洋介
米丸直人
一种衰减
相移
掩模
分析方法及装置
本申请提供了一种衰减
相移
掩模
分析方法及装置。在执行方法时,先将待仿真的衰减
相移
掩模
结构在垂直于表面的方向上划分成若干个层,后将若干个层的每一层视为沿垂直于表面的方向上的波导,基于若干个层建立波导模型,然后对波导模型求解得...
李晨
董立松
韦亚一
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冯伯儒
作品数:109
被引量:225
H指数:9
供职机构:中国科学院光电技术研究所
研究主题:光刻 相移掩模 光刻系统 干涉光刻 掩模
张锦
作品数:139
被引量:234
H指数:8
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研究主题:光刻系统 干涉光刻 光刻 光刻技术 激光干涉
侯德胜
作品数:63
被引量:141
H指数:6
供职机构:中国科学院光电技术研究所
研究主题:相移掩模 光刻 激光直写 光刻掩模 衰减相移掩模
孙方
作品数:9
被引量:4
H指数:2
供职机构:中国科学院光电技术研究所
研究主题:衰减相移掩模 相移掩模 光致抗蚀剂 光刻分辨率 KRF准分子激光
周崇喜
作品数:115
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