搜索到1409篇“ 二次离子质谱“的相关文章
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一种氮化物材料痕量元素的二次离子质谱分析方法
本发明公开了一种氮化物材料痕量元素的二次离子质谱分析方法，收集二次离子中待测元素与氮元素形成的原子团簇型负离子的信号，代替收集该待测元素离子，通过所述原子团簇型负离子的信号分析氮化物材料中待测元素的含量及其深度分布。仅通...
潘拴金兰张建立王淑琴王小兰高江东李丹杨小霞
一种二次离子质谱仪中的浸没透镜及聚焦二次离子的方法
本发明涉及一种二次离子质谱仪中的浸没透镜及聚焦二次离子的方法，浸没透镜设置于二次离子质谱仪内，包括衬底圆盘、第一电极组件和绝缘安装组件，衬底圆盘用于作为第二电极，衬底圆盘上设置有安装槽，安装槽用于安装第一电极组件；衬底圆...
袁元请求不公布姓名蒋军浩请求不公布姓名张启华钟碧麟张勇为
二次离子质谱仪用准原位充放电样品转移装置及应用
本发明实施例涉及一种二次离子质谱仪用准原位充放电样品转移装置，包括准原位充放电样品托和可外接电极的惰性气氛保护样品转移盒；其中，准原位充放电样品托包括金属样品托、绝缘样品托组件和两个导电极耳；绝缘样品托组件设置于金属样品...
王其钰张建茹李泓
一种适用于二次离子质谱分析的多层膜界面位置表征方法
本发明公开了一种适用于二次离子质谱分析的多层膜界面位置表征方法，该表征方法是通过二次离子质谱仪探测器收集包含了界面两侧薄膜中特征元素组成的原子团簇型离子，分析该原子团簇型离子的信号，利用其峰值位置确定样品界面位置。所述原...
潘拴张优政张建立李丹杨小霞
一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法
本发明涉及一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法，包括以下步骤：S1：收集二次离子质谱测定样品的曲线原始数据并预处理所述原始数据；S2：识别并提取经所述S1步骤预处理后的数据的关键特征位置点；S3：根据所述S2步骤...
范金铖请求不公布姓名袁元高玉民张启华何顶新蒋军浩
一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法
本发明公开了一种岩石薄片样品二次离子质谱铀‑铅定年方法，包括以下步骤：S1，样品扫描：识别样品中的定年矿物所在位置；S2，样品切割：将样品中的定年矿物区域切割提取，形成圆形薄片；S3，样品制靶，对提取出的圆形薄片进行制靶...
车晓超
用于SIMS设备的测试样品的制备方法及二次离子质谱分析方法
本发明公开了用于SIMS设备的测试样品的制备方法及二次离子质谱分析方法，该制备方法包括：提供包括半导体衬底以及设置于半导体衬底的第一表面的绝缘层的初始样品；对绝缘层进行第一处理，使半导体衬底的第一表面形成相互交错分布的至...
唐虎 王琦琦
二次离子质谱仪（SIMS）高亮度低能散离子束产生与制备研究
二次离子质谱仪（secondary ion mass spectrometry,SIMS）在地球科学、半导体工业、生命科学等领域的众多前沿科学问题研究中具有广泛的应用。随着地球科学等领域的不断发展,要求SIMS能够实现数...
周洋
关键词：SIMS高亮度
一种构建锆石二次离子质谱年龄三维分布图像的方法
本发明属于二次离子质谱原位微区同位素测试领域，具体公开了一种构建锆石二次离子质谱年龄三维分布图像的方法，包括：步骤1、剥蚀坑深度测量与深度估计；步骤2、构建同位素比值与剥蚀深度之间的关系；步骤3、分馏校正；步骤4、深度叠...
何升郭冬发崔建勇刘瑞萍武勇范增伟刘桂方林燕
高分辨率二次离子质谱仪高稳定度磁场控制系统开发
高分辨率二次离子质谱仪(High Resolution Secondary Ion Mass Spectrometry,HR-SIMS)是一种重要的表面分析仪器,具有高空间分辨率、高质量分辨率和高分析精度的微区原位同位素...
王宇天
关键词：二次离子质谱
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梁汉东
作品数：164被引量：572H指数：14
供职机构：中国矿业大学（北京）地球科学与测绘工程学院
研究主题：二次离子质谱 煤 硫 煤山剖面 多环芳烃
华鑫
作品数：15被引量：7H指数：2
供职机构：华东理工大学化学与分子工程学院
研究主题：二次离子质谱 飞行时间 单细胞分析 微流控 原位
龙亿涛
作品数：183被引量：94H指数：7
供职机构：华东理工大学
研究主题：电化学 单分子 纳米孔 表面增强拉曼光谱 气单胞菌
查良镇
作品数：89被引量：291H指数：14
供职机构：清华大学
研究主题：校准 二次离子质谱 检漏 四极质谱计 SIMS
王佑祥
作品数：44被引量：46H指数：4
供职机构：中国科学院
研究主题：二次离子质谱 SIMS 陶瓷 钛 砷化镓